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第32届IEEE亚洲测试学术会议（ATS 2023）在北京成功举办
2023年10月14日—17日，由IEEE TTTC（测试技术委员会）、IEEE CEDA（电子设计自动化委员会）、中国科学院计算技术研究所处理器芯片全国重点实验室主办，CCF集成电路设计专业委员会和CCF容错计算专业委员会协办的第32届IEEE亚洲测试学术会议（ATS 2023）在北京成功举办，参会人数超过100人，是集成电路测试领域影响深远的一次国际会议。
处理器芯片全国重点实验室副主任李华伟研究员担任ATS 2023的大会主席，中科鉴芯（北京）科技有限责任公司首席执行官叶靖博士、西北工业大学胡伟教授、湖南大学张吉良教授共同担任ATS 2023的程序委员会主席。本次会议得到了我国集成电路设计自动化领域知名组织EDA2和国际EDA企业Siemens EDA的赞助。
会议开幕式由中科鉴芯首席执行官叶靖博士主持，实验室李华伟研究员作为大会主席、实验室李晓维研究员作为IEEE TTTC副主席分别致辞。开幕式上，李华伟研究员还宣布了ATS 2022最佳论文评选结果。
大会主席李华伟研究员开幕式致辞
IEEE TTTC副主席李晓维研究员代表IEEE TTTC致辞
本次会议吸引了来自美国、德国、日本、印度等9个国家和地区的著名学者及企业专家，他们携手带来4场大会特邀报告、2场专题技术拓导讲座、11个学术论文分组报告会、3个专题分组会、以及2个业界分组会。
开幕式大会上，程序主席叶靖博士和西北工业大学的胡伟教授共同主持了4场特邀大会报告，分别为：IEEE Fellow美国Ampere Computing公司Sreejit Chakravarty博士做题为“STANDARDIZING CHIPLET INTERCONNECT TEST AND REPAIR”的主题报告；IEEE Fellow日本九州工业大学温晓青教授做题为“ASSESSING THE POWER-AWARENESS OF VLSI TESTING”的主题报告；IEEE Fellow美国马里兰大学屈刚教授做题为“TOWARDS BUILDING SECURE SCAN-BASED DFT”的主题报告；华为海思EDA首席架构师黄宇博士做题为“TRENDING OF DFT & YIELD LEARNING”的主题报告。
Sreejit Chakravarty博士（IEEE Fellow）做大会特邀报告
日本九州工业大学温晓青教授（IEEE Fellow）做大会特邀报告
美国马里兰大学屈刚教授（IEEE Fellow）做大会特邀报告
大会组织了2个由IEEE TTTC教育委员会推荐的半天测试技术拓导讲座，来自业界和学术界的4位资深专家分别向与会者讲授了前沿的测试技术，包括德国斯图加特大学教授（IEEE Life Fellow） Hans-Joachim Wunderlich和日本九州工业大学Stefan Holst博士的“Test and Health Monitoring Under Approximations and Variations”专题讲座；Synopsys亚美尼亚公司总裁（IEEE Fellow）Yervant Zorian博士和英特尔公司高级架构师苏飞博士的“Silicon Lifecycle Management(SLM)” 专题讲座。
大会收到70篇投稿论文，经过程序委员会严格评审，收录了33篇论文，论文作者在11个学术论文分组报告会进行了分享。除了论文报告之外，会议还安排了主题为“On Automotive Testing”、“DFT on AI Chips”2个业界分组会议（Industry Sessions）和“Security of Processors”、“Security & Fault Tolerance”、“Encryption & Cryptography”3个专题分组会议（Special Sessions）。各位专家学者针对硬件安全、故障诊断与失效分析、测试自动化与机器学习等主题，在分组会议上进行了创新技术分享和交流。
